Short reports on developments and progress in scanning tunneling microscopy (STM), atomic-force microscopy (AFM), scanning probe microscopy (SPM), high capacity probe storage devices (PSD), nanometrology, automatic surface characterization, nanolithography, nanomanipulation, nanoassembling, nanofabrication, molecular manufacturing, nanotechnology, catalytic nanoparticles (CNP), optical profilometry (OP), micromechanical bimaterial IR-detectors
ΠΡΠ°ΡΠΊΠΈΠ΅ ΡΠΎΠΎΠ±ΡΠ΅Π½ΠΈΡ ΠΏΠΎ ΡΠ°Π·ΡΠ°Π±ΠΎΡΠΊΠ°ΠΌ ΠΈ Π΄ΠΎΡΡΠΈΠΆΠ΅Π½ΠΈΡΠΌ Π² ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡΠΈ ΡΠΊΠ°Π½ΠΈΡΡΡΡΠ΅ΠΉ ΡΡΠ½Π½Π΅Π»ΡΠ½ΠΎΠΉ ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΡΠΊΠΎΠΏΠΈΠΈ (Π‘Π’Π), Π°ΡΠΎΠΌΠ½ΠΎ-ΡΠΈΠ»ΠΎΠ²ΠΎΠΉ ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΡΠΊΠΎΠΏΠΈΠΈ (ΠΠ‘Π), ΡΠΊΠ°Π½ΠΈΡΡΡΡΠ΅ΠΉ Π·ΠΎΠ½Π΄ΠΎΠ²ΠΎΠΉ ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΡΠΊΠΎΠΏΠΈΠΈ (Π‘ΠΠ), Π·ΠΎΠ½Π΄ΠΎΠ²ΡΡ
Π·Π°ΠΏΠΎΠΌΠΈΠ½Π°ΡΡΠΈΡ
ΡΡΡΡΠΎΠΉΡΡΠ² Π±ΠΎΠ»ΡΡΠΎΠΉ ΡΠΌΠΊΠΎΡΡΠΈ (ΠΠΠ£), Π½Π°Π½ΠΎΠΌΠ΅ΡΡΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ, Π°Π²ΡΠΎΠΌΠ°ΡΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΎΠΉ Ρ
Π°ΡΠ°ΠΊΡΠ΅ΡΠΈΠ·Π°ΡΠΈΠΈ ΠΏΠΎΠ²Π΅ΡΡ
Π½ΠΎΡΡΠΈ, Π½Π°Π½ΠΎΠ»ΠΈΡΠΎΠ³ΡΠ°ΡΠΈΠΈ, Π½Π°Π½ΠΎΠΌΠ°Π½ΠΈΠΏΡΠ»ΡΡΠΈΠΈ, Π½Π°Π½ΠΎΡΠ±ΠΎΡΠΊΠΈ, Π½Π°Π½ΠΎΠΏΡΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΡΡΠ²Π°, ΠΌΠΎΠ»Π΅ΠΊΡΠ»ΡΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΏΡΠΎΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΡΡΠ²Π°, Π½Π°Π½ΠΎΡΠ΅Ρ
Π½ΠΎΠ»ΠΎΠ³ΠΈΠΈ, ΠΊΠ°ΡΠ°Π»ΠΈΡΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΈΡ
Π½Π°Π½ΠΎΡΠ°ΡΡΠΈΡ (ΠΠΠ§), ΠΎΠΏΡΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΎΠΉ ΠΏΡΠΎΡΠΈΠ»ΠΎΠΌΠ΅ΡΡΠΈΠΈ (ΠΠ), ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΠΌΠ΅Ρ
Π°Π½ΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΈΡ
Π±ΠΈΠΌΠ°ΡΠ΅ΡΠΈΠ°Π»ΡΠ½ΡΡ
ΠΠ-ΠΏΡΠΈΡΠΌΠ½ΠΈΠΊΠΎΠ²